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测控系统中采样数据的预处理

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摘要

结合作者多年从事计算机测控系统的研制开发实践,指出测控系统中常用的一些对采样数据进行预处理的方法,这些方法一直有效运用在笔者研制开发的几种测控系统中.

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来源
《测控技术》 |2000年第8期|15-16|共2页
作者
陆利忠;
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作者单位

(郑州)解放军信息工程大学测控技术研究所,450002;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类计算技术、计算机技术;
关键词
刻度; 标度变换; 预处理;

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