无线充电RX端用低损耗镍锌铁氧体材料及磁片介绍

摘要

本文研究了无线充电RX端用低损耗镍锌铁氧体新材料以及磁片,并与传统的无线充电RX端镍锌铁氧体材料以及磁片做性能对比。要求新材料所制作的无线充电RX端铁氧体磁片磁导率μ1在100kHz下为750,磁导率(虚部)μ″<10,在50kHz&150mT下,体积功耗Pcv<200mW/cm^3,充电效率η>85%,微观结构致密,晶粒细小均一。试验结果表明,用该新粉料生产的无线充电RX端铁氧体磁片,磁导率μi在100kHz下为762,磁导率(虚部)μ″为7.8,在50kHz&150mT下,体积功耗Pcv为147mW/cm^3,充电效率η为85.4%,而传统材料制作的无线充电RX端铁氧体磁片磁导率μi在100kHz下为725,磁导率(虚部)μ″为11,在50kHz&150mT下,体积功耗Pcv为521mW/cm^3,充电效率叩为83.3%。研发的NF601新材料生产的无线充电RX端镍锌铁氧体磁片电磁性能非常好,现正在批量生产,为公司创造了良好的经济效益。