应用精密单点定位技术进行1：10000基础测绘像控点测量的可行性分析

摘要

【摘要】随著测量技术的不断发展，测量数据的精度不断提高，人们在建筑设计和测赞科学中对像控点测量技术的需求不断增大，本文根据精密单点定位技术进行1：10000基础测绘像控点测量进行分析，并指出精度的控制办法和优缺点。