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光栅干涉位移测量技术发展综述

         

摘要

介绍了经典双光栅测量系统、非对称双级闪耀光栅测量系统、单光栅测量系统、基于2次莫尔条纹的光栅测量系统、同心圆光栅2维位移测量系统、2维光栅位移测量系统的测量原理,阐述了各系统的关键问题及不足之处.同时结合双频激光干涉仪外差干涉思想,在单光栅测量系统的基础上,提出了双波长单光栅式纳米级位移测量方法,并通过分析系统特点指出该方法能实现大量程测量、获得纳米级的精度和分辨力.在对各种测量方法进行综合比较之后,总结了光栅测量的关键问题,并展望了光栅干涉位移测量的未来发展方向.

著录项

  • 来源
    《激光技术》 |2010年第5期|661-664716|共5页
  • 作者单位

    国防科学技术大学,机电工程与自动化学院,长沙,410073;

    国防科学技术大学,机电工程与自动化学院,长沙,410073;

    国防科学技术大学,机电工程与自动化学院,长沙,410073;

    国防科学技术大学,机电工程与自动化学院,长沙,410073;

    国防科学技术大学,机电工程与自动化学院,长沙,410073;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 光学计量仪器;
  • 关键词

    测量与计量; 位移; 光栅; 干涉条纹;

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