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林立; 韦书领; 杨春莉; 刘理天; 程绍椿;
华北光电技术研究所,北京,100015;
清华大学微电子所,北京,100086;
光刻; 正/负双层光刻胶; 屋檐式边缘结构; 厚膜剥离;
机译:东京Ohka建议对半导体光刻胶进行双图案正/负组合的方法对于EUV,同时实现高灵敏度,高分辨率和低LER是关键
机译:(Bi-2223)0:95(LSMO)0:05 / LaAlO3复合材料厚膜的负磁阻和正磁阻
机译:超导体/铁磁体复合材料厚膜中从负磁阻到正磁阻的转换
机译:用于剥离技术的高分辨率双层光刻胶结构
机译:通过三体稀有和禁止的魅力来寻找超出标准模型的物理场,将衰减正D介子,正奇怪D介子衰减为正kaon正muon负muon,负kaon正muon正muon,正pion正muon负muon,负介子阳性介子阳性介子阳性介子阳性介子阴性介子
机译:阳极吸附剥离技术制备厚膜二氧化碳传感器及其结构依赖性
机译:使用负厚膜抗蚀剂的显影剂渗透性的微流控设备嵌入式双层微通道制造
机译:反应负π质子产率的研究负π中性pion质子和负π质子产生正π负π中子低于1.5 GE V
机译:厚的化学放大正型光刻胶组合物,厚膜光刻胶层压板,制造方法的制造方法以及厚膜抗蚀剂图案的连接端子
机译:负型厚膜光刻胶
机译:用于厚膜的负型光刻胶组合物及其用途
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