基于线阵列CCD的带转像棱镜的位置测量

摘要

为了降低二维位置定位系统的成本,提出了一种基于线阵列电荷耦合器件(CCD)的测量方法.通过设计一个带有主透镜、球面镜-柱面镜组合以及转像棱镜的特殊光学系统,该光学系统将具有相同坐标值的点成像为同一条直线,使用一个垂直于轴的线阵列CCD来测量该点的一个坐标值.采用转像棱镜使得像面发生90°的旋转,可以用同一个CCD测量该点的另一个坐标值.给出了这种测量方法在电子白板中的应用,并讨论了其高斯光学系统.结果表明,该方法在降低成本的同时可以保证测量精度.