碲镉汞外延晶膜的不稳定性

摘要

通过在不同日期、相同测试条件下霍尔测试同一Ｈｇ１－ｘＣｄｘＴｅ／ＣｄＺｎＴｅ外延晶膜的电学参数，发现其电学参数随时间的不同而不同。根据Ｐｅｔｒｉｔｚｌ［１］的双层模型用计算机进行曲线模拟可知，此晶膜正由半导体（原给组份Ｘ≈０．２１３）向半金属转变。这一点已被扫描电镜所证实。