围生期窒息儿缺氧缺血性脑病的颅脑B超诊断

摘要

围生儿缺氧缺血性脑病(简称HIE)主要由窒息所致。其发病率远较颅内出血为高,且病情严重,病死率高。该损伤与日后小儿神经系统发育障碍密切相关。因此,围生儿HIE的研究已成为围生医学中的一个重要课题。现将HIE的发病机理、病理特征及头颅B超(简称US)在HIE诊断中的应用综述如下: 1 HIE的发病机理引起围生儿HIE的原因较多,但主要为围生期窒息所致。据报道宫内窘迫占50%,产时窒息占40%,约有10%为其它新生儿疾病引起。如反复呼吸暂停发作,特别是伴心率极慢者、严重呼吸窘迫、心跳骤停、心力衰竭、败血症休克等。