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双参考光相移全息干涉计量

             

摘要

本文描述了一种性能优良的条纹分析系统.该系统将相移技术应用于全息干涉计量中,能自动、快速、准确地获得干涉图的相位场.分析一幅条纹图(256×256×8bit)仅需2分钟,重复精度可达±5°.

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