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电荷耦合器件型折射率测定仪的研制

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摘要

基于折射定律设计光路,利用线阵电荷耦合器件(CCD)对光斑位移进行检测,研制成功小型的能够测量透明介质折射率的仪器,设计的测量折射率的范围显著增加.介绍了该仪器设计的基本原理、使用方法,并通过对一些材料折射率的测量,证明其具有较高的测量准确性.

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来源
《同济大学学报：自然科学版》 |2006年第7期|981-984|共4页
作者
孙文光; 章昌奕; 马宁生;
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作者单位

同济大学物理系;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类反射与折射;
关键词
折射率; 线阵电荷耦合器件; 位移测量;

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