铝楔双倍曝光法测试X线胶片特性曲线及应用的实验探讨

摘要

目的　利用铝楔双倍曝光法测试X线胶片特性曲线。方法　分别对铝楔、铝梯进行单倍和双倍曝光 ,将所得到铝楔、铝梯照片的单倍曝光部分和双倍曝光部分 ,用显微密度计分别进行扫描 ,把所得数据用计算机编程处理 ,得到胶片特性曲线 ,并计算出γ值 ;将两种方法所测结果相比较。结果　铝楔双倍曝光法可以测试得到连续的胶片特性曲线 ,曲线的足部和直线部显示较好 ;用该方法测出的γ值与铝梯双倍曝光法所测结果的差别在允许范围之内 ;两种方法测试所得曲线的形状相似。结论　铝楔双倍曝光法可以作为一种胶片特性曲线测试方法 ;铝楔双倍曝光法与铝梯双倍曝光法相比 ,所测曲线更连续 ,这对于程序化测试屏 片MTF曲线。