基于低不合格率过程的质量控制图研究

摘要

随着市场竞争的加剧和顾客需求的提高,保持高质量的生产水平已成为关注的焦点。针对一般性的质量过程,对不同种类的合格品链长控制图(Conforming Run Length,CRL)的原理和适用性分别进行了描述。在此基础上,考虑到低不合格率生产过程的具体特点,从非参数统计检验的角度出发,引入了Mann-Whitney U(M-W U)检验统计量,从而构建了新的质量控制图。最后阐述了控制限的确定方法和控制图判断质量过程是否受控的方法,对新控制图的性能评价、与传统的合格品链长控制图的对比分析也给出了建议。