光点测试中的光点修复方法研究

摘要

针对在荫罩式彩色CRT器件的光点测试中 ,金属荫罩截获阴极束电流形成荧光屏上光点图像残缺 ,器件测试人员因此无法了解真实光点全貌 ,提出了一种有效的解决方案 .该方案基于微分原理 ,采用脉冲偏转微移动法实现电子束在小区间内的线性偏转 ,并同步采集屏上的光点信息 ,利用必要的图像处理技术 ,将多次采集到的残缺光点信息依次叠加 ,修复成为完整的原始光点 .该方案应用灵活 ,成本低廉 ,修复效果较好 ,测量精度较高 ,适用于对各种尺寸彩色CRT器件性能及显示图像质量的评价 .