由21～40keV电子轰击钼引起的k壳层电离截面的测量

摘要

用Ｓｉ（Ｌｉ）探测器测量能量为２１～４０ｋｅＶ电子引起的的Ｍｏ的特征Ｘ射线，从而确定ｋ壳层的电离截面．描述了衬底影响测量结果的修正方法．同各种理论计算的比较表明。