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掺钯硅快恢复二极管V_F～T_(RR)兼容性研究

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作者研究了掺Pd硅快恢复二极管的VF～TRR兼容性,得到掺钯硅二极管的VF～TRR兼容性略优于掺铂、掺金二极管的结果;这一结果与目前广泛采用的Baliga理论的预测不相符合,作者对此进行了分析与讨论.根据实验结果,作者认为应用掺钯技术有望制造出性能优良的超快恢复二极管.

著录项

来源
《四川大学学报：自然科学版》 |2003年第1期|74-76|共3页
作者
廖勇明; 杨仕钟; 陈振; 游志朴;
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作者单位

四川大学物理系;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类 TN315.2;
关键词
掺钯; 硅快恢复二极管; VF-TRR兼容性; 反恢复时间; 反向漏电流; 性能指标;

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