周期性边界条件下MC模拟晶粒数的统计

摘要

本文应用Monte Carlo(MC)法模拟二维条件下晶粒长大的原理,晶粒长大结晶界处的格点迁移为主要特征,并用它模拟了在周期性的边界条件下的晶粒长大行为,提出了一种二维条件下精确的统计晶粒尺寸的方法.可以对各种形态的晶粒进行统计,并且考虑了模拟过程中的周期性边界条件对晶粒统计的影响.通过模拟,揭示了晶粒长大过程中材料组织演变时拓扑学和动力学特征.