小鼠扁桃体免疫细胞受照射后DNA双链断裂损伤修复的忠实性

摘要

观察了受照射小鼠瓦尔代尔扁桃体环(WRE)在体细胞出现DNA双链断裂修复的忠实性, 用60Co γ 射线照射后观察WRE细胞凋亡的最高峰,在此时间点处死小鼠,取WRE细胞分别用脂质体和电穿孔方法介导的基因转染技术,将双标记基因质粒pPMH16导入细胞.研究WRE细胞DNA双链修复的忠实性.结果表明, 未照射WRE细胞的抗G418转化克隆有69.75%的gpt基因表达,说明大部分断裂的gpt 基因被忠实性地修复;2Gy、4Gy射线照射的WRE细胞的转化克隆只有36.05%和21.50%的克隆能正确表达gpt基因功能,说明WRE细胞照射后DNA双链断裂的修复显著低于正常细胞,且剂量越大,修复的忠实性越低. 脂质体和电穿孔方法介导的基因转染技术可用于原代细胞基因转染的研究,照射后的WRE细胞易发生DNA双链断裂错误重接.