首页> 中文期刊>雷达学报 >基于CSAR成像的相干斑统计模型研究

基于CSAR成像的相干斑统计模型研究

     

摘要

圆迹SAR是近些年发展的一种全方位高分辨率新型雷达成像模式.通过一次圆形航迹获得的360°多角度图像能够解决传统SAR无法获取全方位数据的问题,在目标识别、区域检测和3D重建等应用上提供了更为有效的技术途径.该文通过传统SAR图像的统计模型,在假设每个子孔径影像均匀区域独立且服从伽马分布条件下分别建立圆迹SAR中相干累加、非相干累加和取子孔径最大强度值法这3种图像合成方法的统计模型,分析3种方法对图像相干斑的影响,分析结果表明非相干累加具有最好的降斑效果,取最大强度值也能在一定程度上降低相干斑.

著录项

  • 来源
    《雷达学报》|2015年第6期|708-714|共7页
  • 作者单位

    中国科学院电子学研究所 北京100190;

    微波成像技术重点实验室 北京100190;

    中国科学院大学 北京100049;

    中国科学院电子学研究所 北京100190;

    微波成像技术重点实验室 北京100190;

    中国科学院大学 北京100049;

    中国科学院电子学研究所 北京100190;

    微波成像技术重点实验室 北京100190;

    中国科学院电子学研究所 北京100190;

    微波成像技术重点实验室 北京100190;

    中国科学院大学 北京100049;

    中国科学院电子学研究所 北京100190;

    微波成像技术重点实验室 北京100190;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 雷达:按体制分;
  • 关键词

    圆迹合成孔径雷达(CSAR); 相干斑统计模型; 伽马分布;

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号