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基于相移偏移的分层介质微波成像方法

     

摘要

传统的频率-波数域成像方法能有效地重建均匀介质中的目标图像,但对于分层介质,不能生成聚焦的图像,而且目标也无法准确定位.考虑到各层介质介电常数的差异和层间的不连续性,该文推导了适用于分层介质的相移偏移成像方法.并由分层介质中点目标的散射传递函数,分析了成像方法所做的假设和数学近似.通过仿真模拟和试验,验证了所提的方法适用于分层介质实时成像.

著录项

  • 来源
    《雷达学报》|2015年第4期|431-438|共8页
  • 作者单位

    中国科学院电子学研究所 北京 100190;

    中国科学院电磁辐射与探测技术重点实验室 北京 100190;

    中国科学院大学 北京 100049;

    中国科学院电子学研究所 北京 100190;

    中国科学院电磁辐射与探测技术重点实验室 北京 100190;

    中国科学院电子学研究所 北京 100190;

    中国科学院电磁辐射与探测技术重点实验室 北京 100190;

    中国科学院 北京 100864;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 雷达:按用途分;
  • 关键词

    微波成像; 分层介质; 相移偏移; 后向散射传输函数;

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