基于Micro-CT的某固体推进剂装药使用寿命预测

摘要

对某型改性双基推进剂装药进行不同温度(55°C、60°C、65°C、71°C)的热加速老化。以结构完整性首次破坏为临界终点,采用Mcrio-CT研究了该型装药的结构完整性随老化时间变化情况。依据贝瑟罗特方程进行线性回归,预估了该装药25°C下的使用寿命。结果表明,在热空气加速老化过程中该装药结构完整性主要破坏模式为推进剂/包覆层界面脱粘,25°C下该装药的使用寿命预测为12年。