BaFCl_xBr_（1－x）：Sm^（2＋）系列在77K下的荧光谱线窄化和光

摘要

为了寻找能在较高温度下进行烧孔的性能良好的光存储材料。本文研究了ＢａＦＣｌｘＢｒ１－ｘ：Ｓｍ２＋系列的荧光谱线窄化和光谱烧孔现象随组分ｘ的变化规律。随着Ｂｒ加入ＢａＦＣｌ基质，使Ｓｍ２＋的非均匀线宽大大增加，而均匀线宽变化不大，从而实现了高温（７７Ｋ）永久性光谱烧孔，在频畴光存储中，对ｘ＝０．５材料，其存储密度可提高２０倍。