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开关复位型前放芯片CPRE_SW2的噪声及抗辐射性能测试

         

摘要

介绍了一种匹配冷却型半导体探测器的开关复位型前放芯片CPRE_SW2,探索其三种不同的复位工作模式,实现对探测器信号的预处理,具有高能量分辨率低噪声的优点.给出了芯片的电子学测试过程及与实际探测器联调结果,并针对单粒子锁定效应对芯片进行了辐照试验.

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