锇在高压下发生电子拓扑转变的拉曼谱学证据

摘要

5 d过渡金属元素锇(Os)在高压下的电子拓扑转变(ETT)一直存在争议。迄今为止,除个别基于高压同步辐射的X射线衍射数据外,并无其它能够支持Os存在高压ETT的实验报道。本文基于比较光谱学原理,在0~220 GPa内,研究了金属Os的高压晶格动力学行为。分析结果表明,Os的E 2g拉曼模压力系数(dωi/dP)在~110 GPa处发生突变,且mode-Grüneisen参数(γi)产生了相应的数值突降。高压下拉曼声子和mode-Grüneisen参数的突变位置与高压同步辐射衍射实验的异常点接近,这很可能与Os在高压下发生ETT有关。本文从晶格动力学角度讨论了Os的ETT特性,为Os的压致ETT提供了拉曼谱学的证据。