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高可靠性晶体管发辉现象的机理分析与测试安全

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摘要

通过对高可靠性晶体管Vcbo击穿特性发辉现象的失效问题的实验对比分析和物理机理的研究,找出了产生此现象的直接原因,进而通过对晶体管安全工作方面的实验和研究,提出解决发辉现象的措施和测试Vcbo单结特性时应注意的问题,确保了产品的可靠性.

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来源
《兰州大学学报（自然科学版）》|2003年第1期|39-42|共4页
作者
倪振文; 王俊年; 吕振肃; 沈洪远;
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作者单位

湘潭工学院信息与电气工程系,湖南,湘潭,411201;

湘潭工学院信息与电气工程系,湖南,湘潭,411201;

兰州大学信息科学与工程学院,甘肃,兰州,730000;

湘潭工学院信息与电气工程系,湖南,湘潭,411201;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类 N47;
关键词
Vcbo击穿特性; 发辉现象; 可靠性; 晶体管安全工作区;
入库时间 2023-07-25 18:04:09

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