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Ni金属诱导多晶硅薄膜的低温制备与性能研究

         

摘要

利用Ni金属诱导晶化(Metal Induced Crystallization, MIC)的方法制备p-Si薄膜. XRD, Raman光谱研究结果表明, a-Si/Ni经440 ℃ 2 h以上退火处理后, 形成多晶相结构. 用SEM, XPS等分析手段对薄膜的结构进行分析, 并对金属Ni诱导晶化的机理进行简要的探讨.

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