运用XRF仪检验平板玻璃物证

摘要

X射线荧光光谱法（XRF）是平板玻璃元素分析中较为理想的方法之一。运用XRF仪,检验出11个平板玻璃样本的主体成分及其微量元素成分含量,并采用J.帕克法进行数据处理和多参数比对,给出置信概率,使比对定量化,可有效区分、鉴定平板玻璃样品,为开展侦查活动提供线索和证据。