X射线荧光光谱法对聚变靶丸保气半寿命的测量

摘要

建立了非破坏性测量单个聚变靶丸保气半寿命的方法,测量的相对不确定度约为10%.利用X射线荧光(XRF)光谱仪测量不同时刻靶丸内气体的相对含量,根据气体泄漏规律计算其漏率,从而计算出靶丸的保气半寿命.由于110 ℃时的靶丸保氩半寿命与常温下靶丸保氘半寿命相关,因此分别测量了塑料聚变靶丸在常温及100 ℃时对氩气的保气半寿命;常温下塑料靶丸的保氩半寿命达数千小时,而100 ℃时塑料靶丸的保氩半寿命仅数十小时.考察了仪器的稳定性以及样品纵向位置z对谱线强度的影响.由于采用了样品位置精确定位技术,因此测量不确定度主要来源于仪器的稳定性.该技术因其无损、快速和简单而作为靶丸质量控制工具,用以淘汰漏率快于建立的标准设定值.XRF光谱法为惯性约束聚变实验用靶提供了一一对应的保气半寿命参数,使聚变实验结果得到明显改善.