瞬态卡计法测定涂层的半球总发射率

摘要

本文描述了一台瞬态卡计法测定涂层的半球总发射率(?)的装置.用它可以在一次测试过程中连续测定样品在常温和低温相当宽的范围(-130～+140℃)内的半球总发射率值,误差<6%.本文详细地介绍了测试和数据处理方法,分析了误差,并提供了若干金属、阳极氧化铝、涂料型无机涂层和等离子喷涂涂层等样品在不同温度下发射率的测试结果,并进行了讨论.