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光斑尺寸对GaAS1-xBix光致发光谱线型的影响

             

摘要

针对低激发功率密度光致发光(photoluminescence,PL)谱信噪比(signal-to-noise ratio,SNR)对GaAs1-xBix带尾能级探究的限制问题,基于傅里叶变换红外PL光谱实验系统对两个GaAs1-xBix外延膜开展变激发光斑尺寸PL光谱测试分析.结果表明,激发功率恒定时光斑直径增大导致PL峰位红移和线宽先降低后增大.这一现象是由于等效激发功率密度的降低而导致的.在保持激发功率密度为5.1 W/mm2时,光斑增大不影响光谱线型但显著提升SNR.由此,低激发功率密度PL光谱的弱信号探测能力得以提高,有助光谱定量拟合分析.本工作表明,适当增大激发光斑尺寸有助于低激发功率密度PL光谱的SNR和弱信号分辨能力的提升.

著录项

  • 来源
    《红外与毫米波学报》 |2019年第2期|210-214|共5页
  • 作者

    闫冰; 陈熙仁; 刘锋; 邵军;

  • 作者单位

    上海师范大学数理学院;

    上海200234;

    中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室;

    上海200083;

    中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室;

    上海200083;

    上海师范大学数理学院;

    上海200234;

    中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室;

    上海200083;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 光谱分析;
  • 关键词

    光斑尺寸; 信噪比; 光致发光; GaAsBi;

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