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高阶微分组次谱的万有估计不等式

     

摘要

对高阶微分组的低阶离散谱进行估计,首先选择合适的试验函数,利用广义Rayleigh商,得到估计次谱上界的基本不等式,然后用数学归纳法和Schwarz不等式等方法,发现这类问题的主谱与其相应特征向量之间存在的不等式关系,获得用主谱估计次谱上界的万有不等式.

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