挠率探测物理的判据

摘要

挠率的两个源被研究—宏观转动和排列自旋。在狄拉克粒子作为直接对挠率探测者的情况下,挠率自旋效应受到背景的强烈影响,这些背景是磁自旋作用,转动自旋作用和引力自旋作用。增加挠率等价于增加背景本身,首次给出的挠率探测判据是,除了中子星,在任何星内或星外实验,都没有希望给出挠率的直接甚至间接证据。有希望的挠率证据一定是在致密星体上的间接和积累结果。宏观转动粒子作为挠率间接探测者在目前进行的任何实验都不能给出挠率的迹像。