X射线荧光法检测金属镀层厚度

摘要

介绍了用γ辐射源激发Ｘ射线芝为光法测定金属镀层的镀面上量的方法，并同其他检测手段做了对比，发现该法是非破坏性测定镀布量小于几ｍｇ／ｃｍ＾２镀层的是了准确方法。