嵌于MMIC表面矩阵辐射贴片的阻抗特性

摘要

采用时域有限差分（ＦＤＴＤ）方法，对嵌于单片微波集成电路（ＭＭＩＣ）表面的矩形辐射贴片进行了全波三维电磁分析，并在时域分析的数值结果基础上，给出了线馈型矩形辐射贴片的Ｓ参数和天线阻抗。理论分析的结果与实验数据有较好的一致性，从而证明，ＦＤＴＤ方法是分析和模拟微带贴片天线电磁特性的一种简便有效的方法。