基于外部RAM的ARM异常程序调试技术

姚茂群; 叶汉能; 赵武锋; 颜佳宁

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基于外部RAM的ARM异常程序调试技术

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在阐述ARM中异常处理的基本思想以及基于JTAG进行调试的基本原理的基础上,详细分析了目前各种基于外部RAM的ARM异常程序调试技术的原理和特点.通过对比各种调试技术的适用性和优缺点,结合目前嵌人式系统开发过程中常用的ARM芯片和集成开发工具,提出一种新的在外部RAM中调试含有异常处理代码的ARM程序的调试技术,并通过实验验证了其有效性.

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来源
《杭州师范大学学报（自然科学版）》 |2012年第3期|275-279,288|共6页
作者
姚茂群; 叶汉能; 赵武锋; 颜佳宁;
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作者单位

杭州师范大学钱江学院,浙江杭州310012;

杭州师范大学信息科学与工程学院,浙江杭州310036;

杭州师范大学信息科学与工程学院,浙江杭州310036;

浙江大学信息与电子工程学系,浙江杭州310027;

浙江医学高等专科学校,浙江杭州310053;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类模式识别与装置;
关键词
异常处理; JTAG协议; 外部RAM; ARM体系结构; 调试技术; 嵌入式系统;

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