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相关阴影Rician衰落信道上MPSK的性能

     

摘要

研究多输入多输出相关阴影Rician衰落信道上正交空时分组编码M进制相移键控的平均符号错误概率性能.当信道衰落参数为正整数时,使用矩生成函数方法推导了相关视距分量、独立散射分量条件下的阴影Rician衰落信道上M进制相移键控平均符号错误概率性能的精确闭合表达式.利用获得的精确闭合表达式可以分析信道衰落参数和天线间的相关性对M进制相移键控平均符号错误概率性能的影响.

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