微米级X－ray断层扫描技术在TiAl铸件无损检测中的应用

摘要

研究采用MU2000 X射线仪对Ti6Al4V合金的铸造工艺进行了研究。通过逐级放大倍率法对Ti6Al4V合金铸件的内部进行微观检测，X射线断层成像图片表明：铸件内部大部分区域呈现灰色，该灰色部位代表着铸件致密的结构，证明浇注工艺及型壳结构设计的合理性；同时，还观察到铸件内部存在气孔、缩孔和熔接痕缺陷。经分析认为：浇注温度、型壳预热温度偏低是导致产生气孔、缩孔缺陷的主要原因，而熔接痕缺陷则与浇注系统设计的不合理相关。