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xFe-Al2O3颗粒薄膜的XRD分析和GMR效应

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摘要

对rf溅射法制备的xFe-Al2O3颗粒薄膜,应用X射线衍射仪(XRD)进行了测试和分析,推算了不同样品中Fe粒子的大小和元素面积比.并使用4探针外加磁场法对薄膜的巨磁阻效应进行了分析和讨论.当Fe面积比约为25%时,样品的磁电阻率在1.5T磁场下可达-2.3%.

著录项

来源
《功能材料》|2004年第z1期|637-638,642|共3页
作者
艾尔肯·阿不列木; 甫尔开提·夏尔丁; 哈里木拉提·阿扎提;
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作者单位

新疆大学,物理系,新疆,乌鲁木齐,830046;

新疆大学,物理系,新疆,乌鲁木齐,830046;

新疆大学,物理系,新疆,乌鲁木齐,830046;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类铁氧体、氧化物磁性材料;
关键词
溅射法; 颗粒薄膜; 巨磁阻; X-射线衍射;
入库时间 2023-07-24 20:45:43

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