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向东; 刘鑫; 徐奕;
清华大学微电子学研究所,北京,100084;
有效状态; 部分扫描设计; 无效状态; 冲突; 测度;
机译:基于面向故障的冲突分析的同步时序电路可测性非扫描设计
机译:基于冲突解决方案的同步时序电路可测试性的非扫描设计
机译:有关处理器电路的部分旋转扫描设计的说明
机译:基于电路状态信息的部分扫描设计
机译:有冲突的异步电路:基于区域的合成方法=有冲突的异步电路:基于区域的合成方法
机译:基于稳态序列的基于模型的T1T2估计的MR扫描设计优化
机译:基于电路状态信息的局部扫描设计
机译:计算科学:基于sTG展开技术的异步电路编码冲突的交互式解决方案。系列
机译:包含在LSI电路中的移位寄存器锁存电路装置,符合电平敏感扫描设计(LSSD)规则和技术,并且至少部分用于检查和测试目的
机译:解决基于状态信息的同步冲突
机译:基于扫描设计技术的集成电路设计
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