离面位移导数场测量的白光方法及其条纹锐化

摘要

利用单色光条纹图像的非相干叠加，提出了离面位导数场测量的一种白光方法，改进了云纹条纹结构，实现了暗条纹细化，给出理论推导过程，并就条纹的形成机理，结构特点和一些参数条件进行了讨论。