光纤微弯损耗效应及其在检测与自控技术中的应用

摘要

探讨了光纤弯曲损耗机理，提出微弯损耗效应是在光纤弯曲曲率半径小到某一尺寸范围内时，主要由微弯损耗与过渡损耗的综合结果，但在实际应用中，存在着两个困难，一是环境温度变化对传感器结构的影响，二是光源输出功率波动及光路损耗变化等因素，为此，提出了设置参考通道的补偿方法。