基于折叠集的低功耗测试

摘要

提出了一种利用折叠计数器特点,基于完全测试集的低功耗测试方案.方案先用几个相关性很好的折叠集测试电路中大部分的故障,然后直接翻转扫描单元中的数据得到剩余故障的测试向量.在硬件上,采用一个地址计数器和随机访问扫描(Ransom Access Scan,RAS)结构相结合实现了并行的折叠控制.与传统的混合测试模式相比,克服了伪随机测试阶段带来的功耗问题.实验结果表明,该方案能够有效降低测试功耗和测试时间.