面向测试优化的片上网络映射算法

摘要

针对复杂片上系统(SoC)芯片的片上网络(NoC)映射方案未考虑测试需求的问题,提出了一种面向测试优化的NoC映射算法,兼顾了可测性的提升和映射开销的最小化.该映射方案首先依据特定的测试结构,使用划分算法进行片上系统所有IP核的测试分组,其优化目标为测试时间最短;之后,再基于分组内IP核之间的通信量,应用遗传算法实现NoC映射,其优化目标是在测试优化的基础上实现映射开销最小.通过多个ITC' 02测试基准电路进行的实验结果表明:应用该方案后,测试时间平均减少12.67％;与随机任务映射相比,映射代价平均减少24.5％.