首页> 中文期刊>计算机辅助设计与图形学学报 >利用残差控制的快速圆弧生成与反走样算法

利用残差控制的快速圆弧生成与反走样算法

     

摘要

圆弧的生成和反走样绘制是阿形学领域的重要问题.为了提高圆弧的生成速度,提出一种直接利用残差递推实现的基本圆弧生成算法.该算法直接以变形后的残差作为判别依据,消除了迭代中的常数项加法,且每次步进可以方便地转换为厌度,进而构成一种整数反走样绘制算法,这2种算法具有十分相近的结构,且比同类算法效率更高;然后,引入2步迭代参数控制,并视圆弧为水平线段和斜线段逼近而成,推广得到了一种双步行程算法.理论分析和实验表明,文中算法比传统算法的绘制效率提高0.7倍以上.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号