FDTD/MoM用于耦合口径辐射的数值仿真

摘要

对屏蔽体耦合口径的辐射问题进行数值仿真时,导体盒内部结构的复杂性,以及导体盒外部近场到远场的变换是其中的难点所在.时域有限差分法(FDTD)可以处理内部结构复杂、非均匀介质的情况,而矩量法(MoM)擅长处理电大尺寸的辐射问题,因此可以把2种方法相结合来处理此问题.在导体盒内部由于结构和介质上的复杂性,使用了FDTD,在计算导体盒外部远场情况时,使用基于电场积分方程(EFIE)的MoM来变换到远场,从而解决了导体盒耦合口径的辐射问题,节省了计算机内存和计算时间.