首页> 中文期刊> 《电子显微学报》 >异质界面调控超薄PbTiO3薄膜四方性的研究

异质界面调控超薄PbTiO3薄膜四方性的研究

         

摘要

本文利用球差校正透射电子显微镜研究了异质界面结构对PbTiO3/La0.7 Sr0.3 MnO3/NdGaO3(110)O以及PbTiO3/NdGaO3(110)O超薄薄膜体系中铁电PbTiO3层四方性的影响.结果表明,在NdGaO3(110)O衬底上生长的具有化学价态不连续异质界面(La0.7 Sr0.3 MnO3/PbTiO3)的PbTiO3薄膜体系中四方性比直接在NdGaO3(110)O衬底上生长超薄PbTiO3薄膜的四方性明显增强,XPS谱分析显示出界面Mn元素价态发生了变价,探讨了界面处化学价态的变化对薄膜四方性的影响.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号