基于特征向量子空间距离的MPC控制器性能诊断

摘要

针对当前MPC控制器性能评价方法无法定位性能下降源的问题,提出一种基于子空间距离聚类的控制器性能诊断新方法.新方法引入特征向量子空间描述各性能类别的特征,建立子空间距离来度量当前实时数据和已知类别数据的相似性,以距离为度量函数确定监控数据对应的类别,定位引起MPC控制器性能下降的原因.在Wood.Berry塔上的仿真结果验证了新方法的有效性.