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一种断层解释的新方法--双相干相关法

         

摘要

采用双相干相关法来检测微小断层,并估计其落差.理论和实例计算表明,该方法行之有效且具有分辨率高、抗噪能力强、对介质随机不均匀性的压制和对断点绕射不敏感等特点.

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