基于STM32的X射线测厚仪设计

摘要

为了满足对金属板厚度的测量精度要求,文章利用STM32作为控制系统,设计了一种小型化、高精度的X射线测厚仪.该测厚仪采用全桥逆变电路提高电源工作频率,减小了高频变压器的体积,同时采用双向倍压整流电路升压,与传统倍压整流电路相比降低了器件内部压降和整流之后的纹波.实验表明,该测厚仪不仅体积减小了,而且工作稳定,灵敏度可达到0.0001 mm.该设计具有一定的应用价值.