首页> 中文期刊> 《北京师范大学学报:自然科学版》 >锗粉中锗的发射光譜定量分析的准確度

锗粉中锗的发射光譜定量分析的准確度

         

摘要

由于近年来电子学与半导体事业的飞速进展。对于半导体原材料的生产,无论是在数量上,或者在纯度上,都提出了很高的要求。在大跃进的今天,我们的祖国在我们的英明的党的领导下,半导体事业也和党的其他事业一样,在一个短短的时期内便蓬蓬勃勃地迅速发展起来。为了使国家更大量地生产这种非常有用的原材料。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号