9—28keV电子引起的Cu的K壳层电子电离截面

摘要

用高分辨的Ｓｉ（Ｌｉ）探测器测量量Ｃｕ靶在９－２８ｋｅＶ的电子轰击下产生的Ｋ壳层特征Ｘ射线，以确定其Ｋ壳层电子的电离截面。运用用电子输运双群模型对衬底的反射对电离的贡献进行了修正。测量结果与前人的实验和经验公式计算结果作了比较。